可編程 快速溫變老化試驗箱

簡介

1、快速溫變試驗箱主要用于考察產(chǎn)品熱機械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分鐘，實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計缺陷和工藝問題的有效方法。

可編程 快速溫變老化試驗箱

型號：TEB-225PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設(shè)定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

符合標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T5170.2-2008 《溫度試驗設(shè)備》；

2、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗方法Ab》；

3、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低溫試驗方法Bb》；

4、IEC 60068-2-14 2009 《環(huán)境試驗.第2-14部分試驗.試驗N溫度的改變》。