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Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
大型冷熱溫控試驗箱 老化箱適用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等,同時可通過此試驗,進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
聯(lián)系電話:0769-81085056
大型冷熱溫控試驗箱 老化箱
型號:THC-020PF
容積:1200L
內(nèi)箱尺寸:W1200*D1200*H1500,
外箱尺寸:W1450*D2250*H2030
1.溫度范圍:0℃~150℃
2.濕度范圍:20%~98%R.H
3.溫度均勻度:≤2℃ (空載時)
4.濕度均勻度:3%R.H(空載時)
5.溫度波動度:≤±0.5℃ (空載時)
6.濕度波動度:±2%
7.溫度偏差:≤±2℃
8.濕度偏差:≤±3%(空載時)
9.降溫速率:1℃/min
10.升溫速率:5℃/min
11.時間設定范圍:0~999 小時h
12.電源電壓:380V±10%
大型冷熱溫控試驗箱 老化箱
滿足標準及試驗方法
GB11158-2008高溫試驗箱技術條件
GB10589-2008低溫試驗箱技術條件
GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗
GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:低溫試驗
GJB150.5-1986溫度沖擊試
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