環(huán)境高溫老化試驗(yàn)箱 恒溫恒濕箱

1、型號(hào)：SMA-100PF    溫度范圍：-0～150℃

2.工作室溫度范圍：0;-20;-40;-60;-70～+100℃(150℃)

3.濕度范圍： 20%～98% R.H（溫度在25℃～80℃時(shí)）（可設(shè)定恒濕）

4.溫度均勻度： ≤±2℃ （空載時(shí)）

5.濕度均勻度： ≤+2% ~ -3% R.H

6.溫度波動(dòng)度： ≤±0.5℃（空載時(shí)）

7.濕度波動(dòng)度： ≤±2% 

8.溫度偏差： ≤±2℃ （空載時(shí)）

9.濕度偏差： ±2.5%R.H(濕度≥75%R.H)   ±3%R.H(濕度≤75%R.H)

10、降溫速率：0.7～1.2℃/min  

11、升溫速度：1.0～3.0℃/min

12、時(shí)間設(shè)定范圍：  0～9999 小時(shí)

13、溫度交變范圍：-20;-40;-60;-70；-100℃～100℃(150℃)（自定）

14、濕度交變范圍：30%～98% R.H（自定）

環(huán)境高溫老化試驗(yàn)箱 恒溫恒濕箱

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)A;低溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)B;高溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)N;溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：低溫試驗(yàn)